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[期刊论文] 作者：苗保堂, 邓永孝,,
来源：质量与可靠性 年份：1987
第三讲 失效分析技术 失效分析技术是收集失效证据,进一步展现失效特征,鉴别失效模式和研究失效机理的有力手段。在失效分析中恰当选择、灵活运用这些技术是很重要的。...
[期刊论文] 作者：邓永孝,苗保堂,
来源：质量与可靠性 年份：1987
一、可靠性设计的重要性 半导体器件的失效原因来自于设计缺陷、工艺缺陷和使用不当。设计是可靠性的基础,良好的设计是保证可靠性的前提。器件的可靠性是在设计阶段形...
[会议论文] 作者：苗保堂,蒋轩祥,
来源：中国电子学会电子产品可靠性与质量管理学会第四届学术年会 年份：1987
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