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[期刊论文] 作者：章安辉,
来源：中国科技纵横 年份：2011
成品电池在常规的振动试验过程中，用于固定电池的不锈钢板发生断裂，造成产品失效。本文利用光学显微镜、扫描电子显微镜等多种分析测试设备，分析了该产品失效产生的原因及机理，为......
[学位论文] 作者：章安辉,
来源：天津大学 年份：2020
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[期刊论文] 作者：章安辉,李劼,,
来源：科技信息 年份：2011
本文着重研究了SiC晶体微管道测量的两种方法,即KOH腐蚀法和不腐蚀测试法,并对方法及其测量结果进行比较分析,实现对SiC单晶微管道缺陷这一表征SiC单晶质量的重要参数的快速...
[会议论文] 作者：章安辉,王泽,
来源：第七次华北五省市电子显微学研讨会及第九届全国实验室协作服务交流会 年份：2012
弹簧在使用过程中,要承受交变应力的作用,故而对材料疲劳强度有着很高的要求.不当的热处理和加工工艺会严重降低弹簧的疲劳强度,从而使弹簧过早地产生疲劳断裂失效....
[期刊论文] 作者：章安辉,李雨辰,
来源：现代仪器 年份：2006
本文利用扫描电子显微镜和X光电子能谱研究SiC抛光片表面氧化行为,发现Si面比C面的氧化更显著,产生更多的氧化产物,提出利用扫描电子显微镜和X光电子能谱来鉴别SiC晶片的Si面...
[期刊论文] 作者：章安辉,王泽,林华,,
来源：分析仪器 年份：2012
弹簧在使用过程中，要承受交变应力的作用，故而对材料疲劳强度有着很高的要求。不当的热处理和加工工艺会严重降低弹簧的疲劳强度，从而使弹簧过早地产生疲劳断裂失效。本文使用扫......
[期刊论文] 作者：边艳珠,孙占用,李金福,田国章,安辉,
来源：河北医药 年份：1999
本文应用９９ｍＴＣ洗脱液为显像剂对８９例甲状腺结节患者进行了核素显像，并全部与术后病理进行了对照分析。１资料和方法８９例甲状腺结节患者均系我院住院病人，男２９例，女６０例；年龄１６～７５岁，平均４５±１３岁。分别于手......
[期刊论文] 作者：李劼,章安辉,何秀坤,曹全喜,秦涛,
来源：电子科技 年份：2009
用拉曼光谱、X射线双晶衍射仪以及体式显微镜，对升华法生长的6H—SiC单晶品质、SiC单晶中的微管缺陷进行表征。通过对SiC单晶腐蚀前后的微管数目比较发现，微管尺寸和其所形成的...
[期刊论文] 作者：丁丽,章安辉,李宝珠,周智惠,刘立娜,
来源：现代仪器 年份：2010
用于电真空器件密封用的无氧铜在使用中漏气，利用金相显微技术对不同氧含量的无氧铜进行对比分析，发现：无氧铜中氧含量偏高，出现“氢病”，造成微裂纹，导致无氧铜在使用过程中出现漏......
[期刊论文] 作者：李劫,章安辉,何秀坤,曹全喜,秦涛,
来源：电子科技 年份：2004
用拉曼光谱、X射线双晶衍射仪以及体式显微镜,对升华法生长的6H-SiC单晶品质、SiC单晶中的微管缺陷进行表征.通过对SiC单晶腐蚀前后的微管数目比较发现,微管尺寸和其所形成的...
[期刊论文] 作者：洪颖,郝建民,冯玢,王香泉,章安辉,,
来源：半导体技术 年份：2011
采用扫描电镜(SEM)和光学显微镜(OM)观察物理气相传输(PVT)法生长掺V6H-SiC单晶新鲜表面时,发现具有特定形状的析出相,经SEM能谱(EDX)测试确定析出相的主要成分是V,推断其在...
[期刊论文] 作者：丁丽,刘立娜,周智慧,蔺娴,章安辉,李剑,
来源：真空电子技术 年份：2011
钨带在90°弯曲时发生断裂,通过分析发现,断裂钨带碳含量偏高,断口处分层并呈蜂窝式片状形貌,断口附近金相组织也显示出明显的带状组织,断口处组织呈纤维状,断口为脆性断...
[期刊论文] 作者：王香泉,洪颖,章安辉,冯玢,郝建民,严如岳,,
来源：现代仪器 年份：2010
采用SEM观察物理汽相传输（PVT）法生长掺钒SiC单晶新鲜表面时，发现有特定形状的析出相，经SIMS、SEM能谱（EDX）、XRD、台阶仪综合分析，确定析出相的主要成分是钒，且是凸起的，推断其在单晶......
[期刊论文] 作者：王香泉,洪颖,章安辉,冯玢,郝建民,严如岳,,
来源：半导体技术 年份：2010
在用SEM观察沿单晶生长方向切割掺V SiC晶片时,发现其二次电子像存在衬度。表现为先生长部分较明亮,后生长部分较暗淡,中间存在明显突变。在用PVT生长掺V SiC单晶时,SiC单晶...
[期刊论文] 作者：丁丽, 刘立娜, 严如岳, 倪德平, 饶小兵, 章安辉, 王,
来源：现代仪器与医疗 年份：2013
基于现代分析测试结果,分析制冷机冷凝器铜管电化学腐蚀机理。铜管的结构缺陷和加工缺陷引起冷却水中Fe3+离子沉积,从而发生氧化-还原反应及随后的电化学腐蚀,造成铜管壁穿孔...
[期刊论文] 作者：丁丽,严如岳,何秀坤,李宝珠,李雨辰,何友琴,马农农,章安辉,
来源：半导体技术 年份：2009
采用扫描电镜（SEM）、X光电子能谱仪（XPS）、二次离子质谱仪（SIMS）等多种微分析手段对失效器件芯片表面生成物产生原因进行了分析，同时结合器件制备工艺和器件可靠性实验分析了Si3N4钝......
[期刊论文] 作者：丁丽,严如岳,何秀坤,李宝珠,李雨辰,何友琴,马农农,章安辉,刘,
来源：半导体技术 年份：2009
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[期刊论文] 作者：丁丽,严如岳,何秀坤,李宝珠,李雨辰,何友琴,马农农,章安辉,刘立娜,,
来源：半导体技术 年份：2009
采用扫描电镜(SEM)、X光电子能谱仪(XPS)、二次离子质谱仪(SIMS)等多种微分析手段对失效器件芯片表面生成物产生原因进行了分析,同时结合器件制备工艺和器件可靠性实验分析了...
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