目的观察新生儿低血糖脑损伤的临床特征及危险因素。方法回顾性分析123例新生儿低血糖病例资料,根据MRI、脑电图检查(EEG)结果,将21例出现脑损伤的新生儿纳入观察组,102例无脑损伤的新生儿纳入对照组,比较两组新生儿围产期因素、临床表现及血糖检查的差异,多因素Logistic回归分析探讨新生儿低血糖脑损伤的危险因素。结果 21例新生儿低血糖脑损伤MRI检查均有顶枕部皮层受累,DWI表现为高信号,17例T1WI为低信号,T2WI为高信号;惊厥、肌肉张力减低、呼吸异常多见,EEG多有异常。单因素分析显示胎龄、出生体质量、妊娠期糖尿病、首次喂养时间、惊厥、血糖水平、低血糖持续时间、EEG检查与新生儿低血糖脑损伤有关(P<0.05)。多因素Logistic回归分析显示EEG异常、惊厥、低血糖持续时间大于24h,血糖水平小于或等于1.5mmol/L与新生儿低血糖脑损伤有关。结论 EEG异常、新生儿惊厥、低血糖持续时间大于24h、血糖水平小于或等于1.5mmol/L是独立危险因素,应早期干预。