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研究了冶金因素对铝磁盘基片内部缺陷形成的影响，并指出减少或消除这些缺陷应采用的工艺措施。
铝磁盘内部缺陷产生原因的研究
【摘 要】
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研究了冶金因素对铝磁盘基片内部缺陷形成的影响，并指出减少或消除这些缺陷应采用的工艺措施。
【机 构】
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东北轻合金加工厂
【出 处】
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上海有色金属
【发表日期】
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1995年6期
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