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本文用能量为600eV、束流密度为0.5mA·cm<sup>-2</sup>垂直入射的氩离子束对半导体单晶硅上不同宽度的沟槽(15μm、10μm、5μm)进行了不同时间的离子束蚀刻,发现在槽底靠近槽壁处出现了凹沟现象,建立了入射离子在斜壁上反射的理论模型,并通过计算机模拟和实验结果进行了比较。