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结构光三维测量广泛应用于测量物体外轮廓,但使用这种技术测量金属零部件时,会由于金属表面的局部强反射形成高光区域,这种高光致使相机饱和、信息丢失,造成条纹中心提取不准确,从而产生较大的测量误差。因此,寻找一种有效的手段来避免高光问题是非常必要的。基于结构光测量系统自身的特点,提出一种新的高光去除方法——频域滤波法。该方法将高光视作噪声,通过对比分析漫反射光条和高光光条频谱分布的不同,制作合适的滤波器以滤除高光。通过3dsmax软件仿真,模拟高光效果,测试频域滤波后的条纹中心提取精度比不滤除前提高0.8