Au—AlGaN/GaN HFET研制与器件特性

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报道了栅长为1.5μm Au-AlGaN/GaN HFET器件的研制和器件的室温性测试结果。同时,研究了器件经300℃、30min热处理对器件性能的影响,并对比了热处理前后器件的室温特性。实验证明:室温下,器件具有良好的输出特性和肖特基结伏安持性,反向漏电流较小,最大跨导可达47mS/mm;经过300℃、30min热处理后器件的室温输出特性有显著改善,而且器件饱和压降明显降低,说明300℃热处理没有给器件造成不可恢复的破坏。
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