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本文报道在JT-60U和JFT-2M中H模式的最近实验结果。在JT-60U中具有边缘输运位垒的增强约束模式(H模式)的特点是高的边缘离子温度。约束改善完全与边缘离子温度有关。在JT-60U中在弱磁场(-2T)时的H模式与JFT-2M中的H模式具有类似特征:Da发射的迅速减小。然而,在强磁(-4T)和低密度时的H模式中,在JT-60U中没有观察到清楚的转变,虽然约束仍因边缘输运位垒而得到改善。在两个托马克中也研究了碰撞性和输运位垒的宽度,并且与Shaing理论作了比较。在JT-60U中证明了H转变使高βp模