耿二极管的高可靠性技术

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一、前言耿二极管是1963年由 IBM 公司的 J.B.Gunn 发明的,能直接产生微波振荡的器件,现今以通信机为首,在各种多普勒速度表、警报器等民用微波检测器中正在获得广泛应用。耿二极管在其研究初期,认为它是“幻想二极管”,只有短暂的寿命,所以直到现今的实用阶段,其发展历史的确可看作是可靠性研究的历史,在这期间,从工作机构、半导体材料、电极、散热、使用方法等与耿二极管有关连的所有方面积累了提高可靠性的技术。耿二极管作为微波源虽说已进入了实用阶段,但尚缺乏保证其可靠性的数据,从机器的设计和检修观点出发,期望获得有关可靠性的技术根据,以及高可靠性技术的确 I. Introduction Geng diode was invented by JBGunn of IBM Corporation in 1963 and can directly generate microwave oscillation device. Nowadays, communication devices are used in the home, and are obtained in civil microwave detectors such as various Doppler speedometers and sirens widely used. Geng diode in its early days, that it is “fantasy diode”, only a short life expectancy, until today's practical stage, the development history can indeed be regarded as the history of reliability research, during this period, from the work of institutions, semiconductors Materials, electrodes, heat sinks, methods of use, and other aspects related to Geng diodes have accumulated reliability-enhancing technologies. Geng diode as a microwave source has entered a practical stage, but the lack of data to ensure its reliability, from the machine design and maintenance point of view, expect to obtain the reliability of the technical basis, and reliability of the technology really
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