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F124四运算放大器静态参数测试仪的研制
F124四运算放大器静态参数测试仪的研制
来源 :半导体技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:fmylqy
【摘 要】
:
本文对F124四运算放大器静态数测试仪的研制进行了讨论,给出了测试原理电路。仪器中采用参数比较电路和参数显示电路。一次可同时测出F124四个运放电路的同一特性参数,大大提高了测试速
【作 者】
:
李福德
【机 构】
:
陕西机械学院自动化工程系
【出 处】
:
半导体技术
【发表日期】
:
1994年5期
【关键词】
:
运算放大器
四运算放大器
测试仪
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本文对F124四运算放大器静态数测试仪的研制进行了讨论,给出了测试原理电路。仪器中采用参数比较电路和参数显示电路。一次可同时测出F124四个运放电路的同一特性参数,大大提高了测试速度和生产效率。
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