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传统的１００％直流满功率电老化筛选虽然是有效筛选方法，但此工艺毕竟费时、费电、费设备、效率低、成本高、筛选效率差。本文根据晶体管热敏参数异常与潜在缺陷早期失效的关系，论述了晶体管热敏参数快速筛选的机理，并对测试方法及工艺作了一定的讨论，最后考证了快速筛选的可行性。
晶体管热敏参数快速筛选的研究
【摘 要】
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传统的１００％直流满功率电老化筛选虽然是有效筛选方法，但此工艺毕竟费时、费电、费设备、效率低、成本高、筛选效率差。本文根据晶体管热敏参数异常与潜在缺陷早期失效的关系，论述了
【机 构】
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无锡无线电工业学校,华晶电子集团公司器件总厂
【出 处】
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半导体技术
【发表日期】
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1994年3期
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