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设计并建立了一种可用于测量介观尺度（几十微米至几毫米）材料声速的激光超声系统。该系统采用脉宽为6.3 ns的调Q激光器作为超声波激发光源,使用光纤位移干涉仪进行超声位移探测。利用新建立的激光超声系统,测量了不同厚度铜箔的纵波声速。结果表明,激光超声系统得到的声速具有较高精度,可以将其应用于介观尺度材料声速测量。