实现测试复用的SOC设计中的测试结构

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【摘要】

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在系统芯片SOC(system on a chip)设计中实现IP核测试复用的芯片测试结构一般包含两个部分:1)用于传送测试激励和测试响应的片上测试访问机制TAM;2)实现测试控制的芯片测试控

【作者】

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王超沈海斌陆思安严晓浪

【机构】

：

浙江大学

【出处】

：

微电子学

【发表日期】

：

2004年3期

【关键词】

：

测试复用测试总线测试调度芯片测试控制器 Test reuse Test bus Test scheduling Chip test controll

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在系统芯片SOC(system on a chip)设计中实现IP核测试复用的芯片测试结构一般包含两个部分:1)用于传送测试激励和测试响应的片上测试访问机制TAM;2)实现测试控制的芯片测试控制器.文章分析了基于测试总线的芯片测试结构,详细阐述了SOC设计中测试调度的概念,给出了一种能够灵活实现各种测试调度结果的芯片测试控制器的设计.

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