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应用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)对源岩单组分进行原位微分析,结果表明:(1)有机组分二次离子峰集中分布在低质量数(m/z<100)一端;(2)无机离子峰强度普遍高于有机离子峰;(3)同类型相邻的有机离子峰之间相差一定单位的质量(14即CH<,2>);(4)不同有机组分峰强度最大的有机离子相同,但它们峰的相对强度差异非常明显.借助有机离子峰的相对强度可以反映有机组分的化学结构及其生烃性特性.