【摘 要】
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CMOS图像传感器(CIS,CMOS image sensor)相机是照相装置中常用的成像设备.在核工业环境下的监控过程中,CIS易受γ辐射影响产生噪声,影响图像的成像分辨率,有必要从系统角度评估CIS相机抗辐照能力.通过利用60 Co-γ放射源对CIS相机进行辐照实验,分别得到了典型CIS相机的噪声与图像分辨率和辐射剂量的函数关系,进而求出满足相应分辨率条件下CIS相机的辐照剂量上限.研究结果显示,对于相机成像图片目标区域的最小灰度值区域噪声数量占比σ≤2％,CIS相机电离总剂量(total ioniz
【机 构】
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中国科学院 新疆理化技术研究所,新疆 乌鲁木齐 830011;新疆电子信息材料与器件重点实验室,新疆 乌鲁木齐 830011;中国科学院大学,北京 100049;中国科学院 新疆理化技术研究所,新疆
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CMOS图像传感器(CIS,CMOS image sensor)相机是照相装置中常用的成像设备.在核工业环境下的监控过程中,CIS易受γ辐射影响产生噪声,影响图像的成像分辨率,有必要从系统角度评估CIS相机抗辐照能力.通过利用60 Co-γ放射源对CIS相机进行辐照实验,分别得到了典型CIS相机的噪声与图像分辨率和辐射剂量的函数关系,进而求出满足相应分辨率条件下CIS相机的辐照剂量上限.研究结果显示,对于相机成像图片目标区域的最小灰度值区域噪声数量占比σ≤2％,CIS相机电离总剂量(total ionizing dose,TID)小于150 krad(Si),相机分辨率没有明显降低.并且在通过ISO 12233:2014 eSFR测试相机分辨率中发现,利用基于楔形图获取混淆的开始频率测试法评估辐照相机分辨率参数比SFR测试法更具合理性.
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基于华龙一号非能动安全壳热量导出系统(PCS)综合性能实验装置实验结果,对采用基于漂移流模型开发的华龙一号PCS程序(PCS-NCCP)进行验证,对比分析了设计工况及非设计工况下PCS-NCCP程序计算值与实验值之间的误差.结果显示,所开发的PCS-NCCP程序能模拟PCS的排热能力、稳态运行特性和动态响应特性,程序计算值能很好地跟踪实验的趋势和幅值变化,绝大部分计算误差落在±20％范围内,验证了PCS-NCCP程序的准确性.
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单粒子翻转(SEU)是影响空间电子设备可靠性的重要因素,本文提出了一种SEU甄别与定位技术方法,研制了原理样机.硅探测器与辐照敏感器件在垂直方向相互临近安装,粒子入射到硅探测器的位置区域与目标辐照器件单粒子翻转的物理位置相对应.采用波形数字化技术实现了多道粒子甄别与能量信号测量,通过数据回读比较法实现了SRAM器件翻转逻辑定位检测.根据实验室测试和单粒子辐照试验结果,可探测高能粒子的LET≥6.06×10-3 MeV?cm2/mg,入射粒子的位置分辨率优于5 mm,最大计数率≥10000 s-1,SRAM
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