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提出了一种新的基于贝叶斯法的电子器件可靠性指标估计方法．即首先利用以往批次产品的样本试验数据求出先验分布，然后利用当前批次产品的样本试验数据求出后验信息，最后将先验分布和后验信息代入贝叶斯公式求出需要的估计值．运用这种方法对电子器件的失效率A，平均无故障工作时间θ和可靠度R（t）进行了点估计和区间估计．最后用算例加以分析．这种方法增加了估计样本的容量．解决了电子器件试验样本少、可靠性指标估计时缺少数据这一问题。