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高压nMOS器件的设计与研制
高压nMOS器件的设计与研制
来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:buugly
【摘 要】
:
根据TCAD软件模拟的最优工艺条件成功研制了高压nMOS器件.测试结果表明器件的击穿电压为114V,阈值电压和最大驱动能力分别为1.02V和7.5mA(W/L=50).详细比较了器件的模拟结果和测试数
【作 者】
:
李桦
宋李梅
杜寰
韩郑生
【机 构】
:
中国科学院微电子研究所
【出 处】
:
半导体学报
【发表日期】
:
2005年8期
【关键词】
:
高压nMOS器件
模拟
制造
high-voltage nMOS devices
simulation
fabrication
【基金项目】
:
国家重点基础研究发展计划资助项目(批准号:2003CB314705)
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根据TCAD软件模拟的最优工艺条件成功研制了高压nMOS器件.测试结果表明器件的击穿电压为114V,阈值电压和最大驱动能力分别为1.02V和7.5mA(W/L=50).详细比较了器件的模拟结果和测试数据,并且提出了一种改善其击穿性能的方法.
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