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美国国家标准与技术研究所（NIST）和科罗拉多大学协作开发了一种新型扫描显微镜，它能够同时揭示金属纳米结构的物理图象与电子图象。这种新式设备特别适用于分析纳米尺寸的电子材料和纳米颗粒的成分和性能。扫描光致电离显微镜兼备了光学显微镜的高空间分辨率与对微细电活度的极高敏感度，使得它能够检测由材料所发射出的低能电子。这种显微镜包括有光学显微镜真空移动式载物台，超快速近紫外激光束可提供足够高的峰值功率将两种光子实际上同时注入金属中，还有测定由材料发射出的电子数量和电子能量的装置。