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使用WVASE32型椭偏仪, 对Si基单层有机薄膜的测量方法进行分析; 并对聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)材料和氟化聚酯材料进行测量, 根据测量结果对阵列波导光栅(AWG)器件进行设计. 在124 nm到1 700 nm之间可测量出任意波长的折射率, 其均方差(MSE)均远小于1, 证明测量结果极其准确. 同时探讨了对多层有机薄膜及氟化聚合物薄膜的测量方法.