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在稳定的Na2SiO3电解液体系中对ZAlSil2Cu2Mg1进行微弧氧化，研究了电解液中稀土Ce的质量浓度对电解液电导率、微弧氧化过程中正／负向电流及微弧氧化层特性的影响。研究结果表明，随着Ce的质量浓度从0到0．125g／L逐渐增加，电解液的电导率从15．15MS／m逐渐上升到16．54MS／m，微弧氧化过程中的电流发生明显改变；随着Ce的质量浓度的提高，微弧氧化层厚度和显微硬度先增大随后逐渐减小，在Ce质量浓度为0．025g／L时达到最大，其氧化层厚度约为258μm；显微硬度（HV）约为620。