宽谱光源广泛应用于光纤陀螺系统、光学相干层析成像系统、光纤传感等低相干系统中。伴随着生产科研需求的不断提高,低相干探测系统向着高精度的方向发展,研究并提高系统的性能指标是十分急需和迫切的。散粒噪声、热噪声和光源相对强度噪声(Relative Intensity Noise,RIN)构成了系统的光学噪声。其中RIN是最需要被深入了解的,也是最重要的限制低相干系统最小可探测性能的因素,所以透彻了解宽谱光源的RIN对于最大化系统性能至关重要。国内外对宽谱光源相对强度噪声特性普遍的研究重点是从宽谱光源的整体出发研究其发光特性,不同的宽谱光源,噪声差异很大;而对宽谱光源谱内各个位置RIN分布特性,还未有人进行研究。本文利用可调谐光纤布拉格光栅和密集波分复用器(Dense Wavelength Division Multiplexing,DWDM)对宽谱光源进行光谱分割滤波,开展了宽谱光源整体RIN和沿光谱不同波长位置处RIN分布特性研究。主要共分为两个研究部分。同时选用两种常用典型的宽谱光源,分别为掺铒光纤放大自发辐射光源(Amplified Spontaneous Emission,ASE)和超辐射发光二极管光源(Superluminescent Diode,SLD)进行对比实验研究。首先,研究了宽谱光源整体相对强度噪声特性,主要完成了RIN随谱宽和泵浦的变化特性研究。通过实验测试验证了谱宽对宽谱光源RIN的影响,同时揭示了ASE和SLD光源RIN在泵浦增大时具有不同的变化规律。其次,重点开展了ASE和SLD沿光谱RIN分布的特性研究,利用可调谐光纤布拉格光栅对宽谱光源不同波长位置处进行滤波后光源的RIN测试,得到了ASE和SLD光源沿光谱RIN的分布规律。首次观察到ASE光源的RIN与其光谱形状相关。这与均匀分布的SLD有很大的不同,说明了两种宽谱光源的根本区别,这对于设计高性能的基于宽谱光源的测量系统具有指导意义。