IC测试系统的发展从最初的数字信号分析仪开始,逐渐面向SSI/MSI的集成电路测试.随着IC的设计、工艺以及生产技术的进一步提高,LSI的IC测试系统应运而生.现在,集成电路的飞速发展,要求速度更快的,精度更高的,功能更完善的测试系统.国外的VLSI的Perpin结构的测试系统已经发展起来了,但由于其价格的昂贵令国内的大多数用户望尘莫及.因此,如何发展具有更高性价比的,符合中国国情的IC测试系统的问题便摆在研究人员的面前.该论文首先从IC测试的基本原理入手,介绍了测试系统的基本结构.随后,该文着重介绍了Aslin测试系统的时钟发生器和图形发生器,它们是测试系统的主要组成部分.从提高IC测试系统性价比的目的出发,在85攻关测试系统的基础上,对测试系统的时钟发生器的图形发生器作了改进和再设计.对于时钟的速度和定时分辨率,并提高了图形发生的速度,而且,提高了系统性能价格比,对于时钟发生器所做的改进量:1、采用高速CPE结构;2、采用FTTL电路设计相脉冲发生器;3、采用ECL电路设计相脉发生器.对于图形发生器,该论文详细的介绍了图形控制器的工作原理,图形发生器的结构,高速图形产生以及图形存储器的读写原理.最后,该论文还给出了Aslin测试系统Perpin结构的四位管脚逻辑支持电路的设计方案,它的一个最显著的特点就是把时钟发生器的高速部分和波形合成器一起合并到管脚电路中去.论文还论述了它的实用性.