在微光成像领域,随着EMCCD的广泛使用,为确保对成像系统选型的合理性与成像探测的稳定性,选择参数合适的探测系统显得尤其重要。在一些特殊情况下,实际应用的参数并不能直接照搬生产厂家产品手册所提供的参数指标。EMCCD在长时间的使用过程中,某些参数会由于老化等原因发生改变；在工作条件极端复杂的军事环境中,也与EMCCD产品手册所测参数的工作环境不同。目前,国内外尚未形成公开的EMCCD器件光电性能参数校准与测试计量标准。本文首先介绍了EMCCD的结构与工作原理、普通CCD的性能参数测试方法(包括欧洲欧空局CCD测试规范与EMVA1288标准)。然后对EMCCD的光电性能参数的定义、参数意义、测试原理等方面进行分析。基于这一原理,提出了EMCCD光电性能参数的测试方法,设计了一套参数测试系统,系统包括：光学系统、电子学系统以及计算机测量系统,其中光学部分由光源、单色仪、积分球和标准探测器等组成。最后搭建成像系统性能参数的测试平台,并完成了EMCCD光电性能参数的测试。测试相机的转换增益为1.803 e-/DN,满阱容量25770e-,量子效率曲线与产品手册数据一致。为了定量分析测试结果的可信度,本文研究了测量不确定度,引入国际标准ISO/IEC Guide 98-3:2008《测量不确定度表示指南》中的"Guide to the Uncertainty in Measurement",简称GUM法,结合待测EMCCD、标准探测器等器件的误差对测试系统测量不确定度进行了评估,结果表明量子效率与其他光电参数相对扩展不确定度分别为2.9%与1.36%。