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大规模集成电路的发展使得集成电路的封装变得越来越小，这在给电子电路设计带来便利的同时也带来了一些困扰：芯片或功能模块内部结点变得无法探测，给电路调试工作带来很大困难。传统的调试工具及方法过分依赖芯片引脚，不能在处理器高速运行下正常工作，还占用一定的系统资源，也不能对硬件内部进行测试。而目前电子设备所广泛使用的嵌入式高端处理器的一些内部控制以及内部存储器的总线信号并不体现在外部引脚上，从而给传统的调试工具带来了极大的挑战，这就需要更先进的调试技术和工具与其相适应。并且目前各大公司生产的超大规模集成电路芯片基本全部具有边界扫描结构。因此利用边界扫描结构来对系统进行调试的方法应运而生。本文设计了一种基于USB2.0的TI公司DSP仿真器的研制方法。该系统以USB控制器CY7C68013为核心，通过ACT8990实现IEEE1149.1协议，实现PC机对DSP片内数据的读写和传输，从而完成仿真功能。本文首先阐述了边界扫描技术产生的背景以及发展现状。接着对边界扫描的国际标准IEEE1149.1以及USB接口和WDM驱动程序进行了简单且必要的介绍。在此基础上，给出了整个控制器的硬件方案，具体包括对此控制器所需芯片进行选型，采用CY7C68013及其配置芯片EEPROM完成USB接口部分的功能，采用ACT8990完成边界扫描部分的功能，为完成部分逻辑功能及对此控制器设计的部分电路加密，采用CPLD EPM3032A实现。接着，给出了整个控制器的软件设计方案，具体讨论了CY7C68013的固件设计，以及利用Windows DDK开发包开发固件装载驱动程序及控制器驱动程序的方法。最后对整个控制器的研制做了一个总结，并提出了一些改进意见及对控制器的发展做了一个展望。调试结果表明，研制的边界扫描控制器功能正常，符合设计要求，具有即插即用、无需外部供电、连接简单可靠等优点。