VO2薄膜生长及n-VO2/p-GaN界面接触特性研究

来源 :大连理工大学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:woshiliuning
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钒-氧化物在临界温度(Tc)会表现出独特的绝缘体—金属相变特性,并伴随着电阻和近红外波段透过率的突变行为。二氧化钒(VO2)的Tc为68℃(最接近室温)。在低于Tc时,VO2薄膜是高电阻的绝缘体,在高于Tc时显示出金属态。晶体结构在相变过程中发生显著变化,即从低温绝缘体单斜结构变化到高温四方金红石结构金属相,且晶格结构变化可逆,故VO2薄膜的相变特性也可逆。这种独特相变行为可以在光电子开关、激光防护和热智能窗等有极大的应用。但是钒-氧化物的复杂性和单一相VO2薄膜的Tc约束了VO2作为新材料的潜力。通过离子掺杂确实可以降低VO2薄膜Tc至室温,但也使相变幅度显著减弱且相变热滞线圈展宽。故生长单一相VO2薄膜并精准调控VO2的Tc且维持光、电突变性尤为重要。本文旨在采用氧化物分子束外延(O-MBE)技术在P型氮化镓衬底上生长不同厚度的高质量VO2薄膜,获得VO2/p-GaN异质结。通过改变VO2薄膜厚度引入应力的手段来调控VO2相变特性,探究VO2薄膜和VO2/p-GaN异质结的电、光学相变特性。主要的研究内容:(1)通过O-MBE技术在商用的p-GaN/蓝宝石衬底上生长可以精确控制薄膜厚度的高质量VO2薄膜,通过不同的薄膜厚度引入应力来改善相变特性。对VO2薄膜进行X射线衍射仪(XRD),扫描电子显微镜(SEM),原子力显微镜(AFM)表征,研究VO2薄膜的晶格结构和形貌。(2)研究生长在p-GaN/蓝宝石衬底上的不同VO2薄膜厚度在不同温度下的电阻相变特性。在相对暴露环境下放置一年后的VO2薄膜电学稳定性以及温度变化使得VO2/GaN异质结从pn结到肖特基结的转变行为。(3)研究在p-GaN/蓝宝石衬底生长的VO2薄膜光学透射率特性,包括在近中红外波长范围内VO2薄膜不同温度下的透射率变化,近红外特定波长下不同温度的VO2薄膜光学透射率。还包括在是否有太阳光模拟器作用中不同温度下VO2薄膜电阻性质的变化。通过实验及表征,我们得到了生长在p-GaN/蓝宝石衬底上的具有单一相并且均匀的高质量VO2薄膜,在56.9oC和62.9oC观察到可逆金属绝缘体相变(MIT),低于VO2体单晶的相变温度(68oC)。升高的温度将异质结从pn结变成肖特基结。一年后的VO2薄膜仍具有可逆相变特性,但性能变差。在2μm的近红外光照射下VO2薄膜透射率在温度变化时具有28%的突变性。VO2薄膜的电阻值在太阳光下与非阳光照射相比的稍微降低,仍具有电学相变性。
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