近年来,微波技术正在以飞快的速度向前发展,各种微波天线和微波器件得到广泛应用。与之相关的各种高性能微波介质材料的研究与开发,已引起许多科技工作者的高度重视和兴趣。为适应这一发展,迫切需要研究微波介质材料参数测试技术。本论文研究微波介质材料参数测试方法和技术,所作的工作具有理论意义和实用价值。本文先以测量材料介电常数的波导多端口技术和四态四端口微波介质材料参数测试系统理论为基础,研究了低损耗介质材料的部分填充介电参数测量方法,可使低损耗微波介质材料参数测试样品的规格要求放宽。实验测试结果表明了部分填充介电参数测量方法的可行性。然后,研究了同轴探针对称激励矩形波导模式谱图,证明了探针对称激励情况下矩形波导中不存在m为偶数的模式,这一结论可以用于拓展微波介质材料参数测试系统的工作频带。采用实验结果,验证了理论分析的正确性。还采用矩形波导四态四端口微波介质材料参数测试系统,对几种微波介质材料进行了测量,测试结果表明,在对称激励情况下,可成功地将3cm波导四端口微波介质材料参数测试系统的工作频率拓展到16GHz。