测量材料的红外发射率，是红外辐射度学的重要内容之一，在红外物理学和许多技术领域都有重要意义。而目前存在的红外发射率测量周期长、不稳定等缺点使得相应的红外材料研制非常不便。 本文结合计算机技术和电子技术，致力研究出新型、快速的红外发射率测量仪。主要从样品表面温度控制，红外探测器的选择，数据采集及后期处理等几个方面入手，在几个环节都做了细致的工作，大大节省了硬件的投入，并且丰富了仪器的测量数据，扩大了仪器的应用范围。 本文提出了一种新型的发射率探测方式，这个新型探测方法源于物体的空腔辐射近似于黑体辐射的现象，通过将样品变化成空腔辐射的方法来获得对照的黑体。摒弃了传统发射率测量需要标准黑体源的做法，使得该设计的装置具有测量稳定快速的特点。 特别的，在涂层发射率测量方面，本论文提出的装置具有其它测量装置不可比的快速特点，非常适合应用于红外发射率材料的研制工作中。 该研究的创新：1，提高了测量的自动化程度，可以自动测定样品表面温度。并给数据处理保存带来方便。2，将辅助调制方法引入发射率测量之中，达到了稳定测量材料发射率的效果。