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采用两步生长法,利用脉冲激光沉积法在Si(111)衬底上制备了10~40 nm的外延CeO_2薄膜,采用磁控溅射法构建了Pt/CeO_2/Si MOS结构,进一步表征了CeO_2薄膜的界面和介电性能,根据等效氧化物厚度-物理厚度曲线得出CeO_2薄膜的介电常数为37,由高频电容电导法计算得出界面态密度为10~(12)量级。利用外延CeO_2薄膜充当缓冲层,应用脉冲激光沉积法在CeO_2/Si(111)衬底上制备了Ba_(0.6)Sr_(0.4)TiO_3(BST)薄膜,研究了不同氧压下沉积