目的:探究植入型心律转复除颤器(implantable cardioverter defibrillator,ICD)植入后,恰当放电、不恰当放电的影响因素。方法:选择本院2014年04月至2019年11月期间行ICD及CRT-D植入患者进行规律随访,并筛选出符合纳入与排除标准的研究对象。根据术后是否发生恰当放电治疗,分为恰当放电组与未发生恰当放电治疗组,比较患者性别、年龄、起搏器的类别、合并症、用药情况等基线资料,肌酐、心电图QRS时间、QT间期、LVEF等临床资料,采用二元logistics回归探讨影响恰当放电治疗的影响因素;根据术后是否发生不恰当放电治疗,分为不恰当放电组与未发生不恰当放电治疗组,比较患者性别、年龄、起搏器的类别、合并症、用药情况等基线资料,肌酐、心电图QRS时间、QT间期、LVEF等临床资料,采用二元logistics回归探讨影响不恰当放电治疗的影响因素。结果:共纳入了67名患者,中位随访时间13个月,共有35例患者术后随访中发现触发了ICD放电治疗,11例患者发生不恰当放电,24例患者发生恰当放电,余32例患者未触发放电治疗。与未发生恰当放电治疗组相比,恰当放电治疗组患者的LVEF更低,中位数(30.5%vs 39.0%,P=0.023),使用他汀类药物的比例也更低(41.7%vs 72.1%,P=0.014);通过二元logistics回归得出:LVEF(P=0.037,OR=0.917)和他汀类药物使用(P=0.041,OR=0.180)为恰当放电的影响因素。与未发生不恰当放电治疗组相比,不恰当放电治疗组心房颤动的发生率(54.5%vs10.7%,P<0.001)较高,他汀类药物使用率(27.3%vs 67.9%,P=0.011)较低;通过二元logistics回归得出:心房颤动(P=0.039,OR=2.137)为不恰当放电的影响因素。结论:LVEF是ICD术后发生恰当放电治疗的影响因素;心房颤动是ICD术后发生不恰当放电治疗的影响因素。