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随着嵌入式技术及DSP、FPGA在超级电容器测试领域的应用不断深入,使得超级电容测试机的便携化大大加快。基于功率MOSFET的大电流控制技术已经基本成型,作为数字化技术领跑者的DSP、FPGA无可争议地取代了MCU(单片机)在超级电容器测试系统中的主导地位。基于这一背景,本课题提出并完成了基于嵌入式的超级电容器参数测量系统的研究。本文在深入分析超级电容器内部结构的基础上,提出了大电流恒流充放电的方法来实现测量,通过功率MOSFET并联扩大电流并恒定电流,通过双积分调节实现闭环控制,提高恒流精