随着微电子技术的迅速发展,VLSI的集成度和复杂度不断提高,给现有的测试技术和测试仪器带来了严峻的挑战。20世纪80年代初,人们提出了通过测量电路稳态电流(IDDQ)来测试CMOS电路的方法。基于电流的IDDQ测试方法与CMOS电路有很好的兼容性,它可检测出电压测试方法不能检测的故障和物理缺陷,目前已成为一种广为接受的重要的CMOS数字集成电路的测试方法。90年代中期,人们提出了瞬态电流测试方法(IDDT),以便发现一些其他测试方法所不能发现的故障,进一步从总体上提高测试的故障覆盖率,满足人们对高性能集成电路的需要。因而这种方法作为传统测试方法的一个补充,正逐步受到研究领域和工业领域的关注和研究。为了便于测试,我们将生产过程中集成电路出现的多种多样的缺陷抽象为各种模型。目前常用的故障模型主要有:固定故障,开路故障,桥接故障,存储故障,时滞故障等。电压测试主要针对固定型故障模型,多年的研究也取得了令人满意的结果;CMOS电路中的桥接故障则宜用稳态电流测试方法(IDDQ)测试;对于电压和稳态电流难以测试的开路故障,可以使用瞬态电流测试(IDDT)的方法进行测试。本文从故障激活的条件入手,利用五值逻辑,对瞬态电流测试中的延时变化进行波形分析和波形计算,采用并发模拟算法,编程实现了一个IDDT测试的故障模拟器。实际电路中由于制造工艺的限制,逻辑门的延时并不相同,而是在一定范围内变化,引起波形变化的时间不确定。本文采用五维立方(v0 ,v1 ,f, h1, h0)来表示一条信号线在某一时间段内的波形,并给出了不同门电路的输出立方计算方法。利用向量对,采用瞬态电流测试方法对开路故障进行并发模拟;同时将一个向量对看成两个独立的向量来模拟固定故障。模拟结果取得了较好的故障覆盖率,从而验证了延时变化时进行故障并发模拟的可行性和有效性。最后,针对IDDT测试的可行性,我们通过利用PSPICE软件对S208电路中的一些故障做了模拟,这些故障包括开路故障和延时故障。从模拟的波形来看,无故障电路和故障电路的波形差别比较大,这充分论证了IDDT测试应用于工业是可行的。