发射率作为材料热物性的一项基本参数,在科学研究与工业生产领域具有广泛的应用背景,随着航空航天与非接触测温技术的发展,对高温条件下材料发射率的需求也日益剧增。本文研究了高温条件下材料光谱发射率测量方法,并研制了基于傅立叶红外光谱仪的光谱发射率测量系统。首先,针对样品辐射能量的传递过程,分析了样品辐射在加热腔、光谱仪内部传输特性以及检测器能量平衡关系,建立了样品辐射、黑体辐射与光谱仪输出信号之间的理论关联式,采用双温黑体法对傅里叶光谱仪进行了校准,得到了光谱仪检测器的响应函数与背景函数,在此基础上建立了发射率测量方法。其次,研制了高温光谱发射率测量系统,设计了不同类型的样品加热装置并进行了试验优化,研究了基于Christiansen效应样品表面温度测量方法,并进行了试验验证,设计了高温黑体与样品之间的光路转换装置,校准了高温黑体。再次,在研制的光谱发射率测量系统上,进行了高温光谱发射率试验研究,分析了检测器响应函数、检测器背景函数、检测器响应函数稳定性和测量系统的非线性误差；采用SiC、MgO等典型耐高温材料,进行了800℃～1500℃法向光谱发射率测量试验,分析了试样不同温度下的光谱发射率特征。最后,对测量系统进行了不确定度分析,利用不确定度合成公式,对SiC样品在不同温度下的发射率进行相对不确定度分析,分析了响应函数与背景函数、样品信号、样品表面温度和环境温度对发射率相对不确定度的影响,计算出碳化硅样品在不同温度下的总相对不确定度。