自从上个世纪六十年代发展以来，半导体激光器在光电子科学和技术领域中占有重要的一席之地。半导体激光器随着不断地在各种领域中得到了适合的应用之后，半导体激光器的发展极其迅猛。如今半导体激光器在光纤通信，生物医疗，信息存储等领域中都有着普遍应用并且应用的范围也在不断地扩展。　　半导体激光器的无损评价技术有助于半导体激光器的筛选，能够快速地筛选出可靠性高的器件，有利于缩短产品测试周期，避免了传统方法中所带来的资源损耗和浪费。电导数方法是目前对于半导体激光器进行无损评价方法中处于优势地位的方法之一。　　本文基于电导数方法和传统的电老化方法来对器件的评价技术开展了相关实验工作。对12个器件进行传统的电老化，在器件的老化过程中监测其P-I-V特性参数，光场分布情况和电导数参数的变化。处理了大量的数据为电导数方法理论提供支撑。分析了样品期间的电特性参数变化趋势和光场分布变化趋势，结合了电导数方法的变化与器件的寿命关系来对样品器件在老化过程中的变化进行了定性分析。作者建立了结特征参量变化量的方法来对半导体激光器进行退化模式的分析。