一个含有速度过冲效应的SOI\\MOS器件模型

来源 :第十一届全国半导体集成电路、硅材料学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yangjie871202
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该文给出了一个含有速度过冲效应SOI/MOS器件解析模型。速度过冲效应在模型中被考虑而不显著地增加模型的复杂性和计算时间。模型的计算结果可以和沟道长度为0.15微米的SOIMOSFETI-V实验曲线吻合较好。
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