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荧光寿命的检测是荧光光学传感器的核心内容，国际上发展了多种手段。本文介绍了一种加权的对数拟合法，可以得到和非线性函数标准拟合方法--Levenburg-Marquardt 方法非常接近的结果，但拟合时间大大缩短。文中给出了具体实验测试结果，结果显示这种方法的曲线偏差的情况与Levenburg-Marquardt 方法非常一致。