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会议论文
CMOS 4000及54HC器件的总剂量辐照响应特性比较
CMOS 4000及54HC器件的总剂量辐照响应特性比较
来源 :第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yh820927
【摘 要】
:
本文通过对CMOS 4000、54HC系列门电路进行不同偏置条件下的电离辐照实验,比较了电离辐照环境中CMOS 4000和54HC系列电路的总剂量辐照响应特性,对其响应差异进行了较深入的机理
【作 者】
:
王改丽
郑玉展
高博
李茂顺
崔江维
余学峰
任迪远
孙静
文林
【机 构】
:
中国科学院新疆理化技术研究所 新疆 乌鲁木齐830011 中国科学院研究生院 北京 10080
【出 处】
:
第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会
【发表日期】
:
2009年期
【关键词】
:
器件
总剂量辐照
辐照响应
门电路
抗辐射能力
响应特性
评判标准
机理研究
辐照实验
辐照环境
电离
测试方法
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本文通过对CMOS 4000、54HC系列门电路进行不同偏置条件下的电离辐照实验,比较了电离辐照环境中CMOS 4000和54HC系列电路的总剂量辐照响应特性,对其响应差异进行了较深入的机理研究,并由此探讨了54HC电路的抗辐射能力测试方法和评判标准.
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