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近年来，随着集成电路制造工艺的飞速发展，集成电路制造技术已从深亚微米进入到纳米技术阶段，集成电路系统集成度得到迅速提高，超大规模集成电路测试技术已逐渐成为制约集成电路研发成本和周期的“瓶颈”。全面介绍了VLSI的主要测试方法，分析了各自的特点，对超大规模集成电路测试技术的发展趋势做出了预测。