实现光生折射率变化量直接测量的新方法

来源 :第六届全国敏感元件与传感器学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户：huangshuhui1983

【摘要】

：

在光纤光栅的制造技术中，对于折射率的变化量，一直是延用根据光栅的反射率间接推算的方法来得到。研究人员利用半导体激光器线性调频技术与光程差不为零的Mach-Zehnder干涉仪结合，构成调频连接波(Frequency Modulation Continuous Wave:FMCW)外差干涉仪，实现了对光生折射率变化量的快速、高精度测量。

【作者】

：

黎敏廖延彪章恩耀陈荣声杨克武

【机构】

：

清华大学电子系(北京) 北京玻璃研究院(北京)

【出处】

：

第六届全国敏感元件与传感器学术会议

【发表日期】

：

1999年12期

【关键词】

：

光纤光栅制造技术光性折射变化量测量半导体激光器线性调频技术外差干涉仪

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