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CMOS电路的引出端(包括输出、输入、电源端和地端)受到外界电压电流信号的触发,容易产生闩锁效应,闩锁效应不但是CMOS电路的主要失效机理,而且是阻碍CMOS电路集成度提高的主要因素之一.本文同时列举了几个闩锁效应引起器件失效的例子,以供参考.
闩锁效应对CMOS器件的影响分析
【摘 要】
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CMOS电路的引出端(包括输出、输入、电源端和地端)受到外界电压电流信号的触发,容易产生闩锁效应,闩锁效应不但是CMOS电路的主要失效机理,而且是阻碍CMOS电路集成度提高的主要因素之一.本文同时列举了几个闩锁效应引起器件失效的例子,以供参考.
【机 构】
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信息产业部电子第五研究所,电子元器件可靠性物理及其应用技术国防科技重点实验室
【出 处】
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中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会
【发表日期】
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2004年7期
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