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随着制造工艺的不断进步，老化效应导致的动态参数偏差和漏电给集成电路的可靠性带来了严峻挑战。目前关于电路老化和漏电的协同优化方法或者以侵入式方法实现，或者采用输入向量控制方法(IVC)。然而，侵入式方法会增加设计复杂度，并引入较大的时延和面积开销；而IVC方法则会随着电路规模的增大逐渐失去其优化效果。本文提出了一个新的协同优化模型以最小化电路处于待机模式时由于NBTI效应导致的时延偏差和静态漏电。提出的协同优化模型将NBTI效应导致的时延偏差和电路的平均静态漏电统一模型化为占空比的函数。将此模型应用于非线性规划中可以识别出电路处于待机模式时内部节点上的最优占空比集合。提出的协同优化模型通过一个多输入向量控制方法进行验证。实验结果表明，提出的模型可以有效地应用于NBTI效应和电路静态漏电的协同优化中。