高压CMOS器件IV特性的模拟

来源 :中国电工技术学会电力电子第六次全国学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:baiyomkg02
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利用一个MOS场效应管和一个结型场效应管的复合模型,来模拟漏极带有缓冲区的高压场效应晶体管的I/V特性,以常规器件模型解决特殊器件结构的问题,为研究标准MOS工艺下高压器件的I/V特性提供一种方法,文中给出了这种器件参数的提取过程,并给出了SPICE的模拟结果。
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