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在基于片上网络的多核芯片测试时,将多播通信技术作为片上网络的数据传输方武,对大量同构核进行并行测试的方法,可以大大缩短测试时间.但这将导致片上同构核密集区域过热,产生“热点”,引发串扰和时延问题。本文针对使用多播技术对大量同构核并行测试产生的“热点”问题,结合热量因素进一步研究原有的多播测试访问路径,分析“热点”产生的原因与芯核分布对其的影响,提出了无“热点”的多播测试方案优化算法,控制同构核并行测试时的最高温度。实验结果表明,本文方法可以有效约束芯片的温度,避免形成“热点”。