论文部分内容阅读
半导体芯片铝键合点上有机沾污的TOF-SIMS研究
【机 构】
：
大学材料科学系(上海)
【出 处】
：
1998二次离子质谱学国际研讨会暨第二届全国二次离子质谱学会议
【发表日期】
：
1998年期
其他文献
介绍一种基于客户器／服务器（Ｃ／Ｓ）结构的飞行任务规划数据管理系统。它能按对象，很好地组织空间数据，提供高效率操作的数据库接口，允许大量用户同时操作同一数据，在遵守同一网络协议的条
ＴＯＦ－ＳＩＭＳ提供了一个探测和分析微芯片键合点上有机沾污的有力手段。分析比较了两个集成电路芯片上钻键合点的ＴＯＦ－ＳＩＭＳ二次离子谱，其中一个芯片经目检发现其键合点在工艺流程中被沾污，而另一个是
本文报道了应用基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱法成功地对系列芳香环状低聚物进行了分析测定,获得了满意的结果.
ＣＣＤ像感器产生计量莫尔条纹的研究＊仲思东余模智郑琳（武汉测绘科技大学光电工程学院武汉４３００７０）０引言ＣＣＤ作为图像传感器应用领域日益广阔［１］。由于其像元几何排列规则，一个空间频率接近或超过奈奎