一种PCB镀层分离成因机理分析

来源 :第十届全国印制电路学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:myloud911
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在PCB电镀生产过程中所产生的一铜与二铜孔口处镀层分离,虽然通过热应力测试、可焊性测试等测试确认对产品性能并无明显影响;但是在时已至今日对产品可靠性要求越来越高的环境下,一铜与二铜在孔口处出现异常分离的情况,对产品使用的可靠性仍是一个极大的隐患.本文针对该种镀层分离的产生原因进行深入的分析,找到其产生的根本原因,并对其反应机理进行简单的分析.通过对缺陷分析并设计试验,模拟出导致镀层分离的因素主要有三个方面:图形电镀前处理污染、微蚀量低以及镀铜前酸浸槽铜离子浓度高影响。结合现场跟进和不良趋势分析,镀铜前酸浸槽中的亚铜离子浓度影响最大,此项改善后,镀层分离问题基本已经杜绝。同时也查阅相关文献;镀铜前酸浸槽中若存在一定浓度的Cu+/Cu2+离子,则很容易吸附在孔口,而在电镀起始阶段此处的铜离子首先接受阳极送过来的电子,而形成一层疏松的电镀层,在后续的受热或外力的作用下很容易分离开来,得到了一定的理论支持。
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