【摘 要】
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为了准确真实地反映待测模拟IC的功能和参数特性,面向模拟IC自动测试仪设计并实现了一种基于FPGA的实用多通道高精度数字化仪.给出了整体硬件结构图,并对系统进行了分解和关
【机 构】
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电子科技大学微电子与固体电子学院,四川成都610054
【出 处】
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四川省电子学会半导体与集成技术专委会2012年度学术年会
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为了准确真实地反映待测模拟IC的功能和参数特性,面向模拟IC自动测试仪设计并实现了一种基于FPGA的实用多通道高精度数字化仪.给出了整体硬件结构图,并对系统进行了分解和关键部分的讨论.采用软硬件同步补偿法校准信号通道,保证了信号的采集精度.数字化仪测量精度为14位,最低采样率10MHz,最大输入信号频率为1MHz,峰峰值范围为20mV-20V,可变增益范围±40dB,测量误差小于1％.实际测试表明该设计满足模拟IC测试仪的项目要求.
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