覆盖率驱动的测试生成相关论文
在越来越复杂的SoC芯片设计过程中,功能验证已成为芯片设计周期中最主要的瓶颈;采用人工智能算法在功能覆盖率指导下自动生成随机......
随机测试生成技术是当今大规模集成电路仿真验证流程中的重要支撑技术．覆盖率驱动的随机测试生成方法是目前该领域研究的热点．遗传算......
随机测试生成技术是当今大规模集成电路仿真验证流程中的一项重要支撑技术.覆盖率驱动的随机测试生成方法是目前该领域研究的热点......
