针对紫外焦平面阵列器件调制传递函数的测试需求,基于刀口扫描法,搭建了一套调制传递函数测试系统.采用SW-Cassegrain同心反射系统......

本文采用PI-4000 系列测试系统对GaN64 元线列焦平面进行测试，获取在不同频率下的线列焦平面性能，确定其最高工作频率，并对影响其最高......

电流响应率是紫外探测器的重要特性参数, 光敏芯片与读出电路芯片耦合成焦平面组件后, 不能通过测试焦平面组件直接得到电流响应率......

工作在“日盲”波段(240nm-285nm)的GaN基紫外探测器，因其消除了日光和其他光谱的干扰，具有量子效率高、可靠性高、误报率低等特点，在......

快照模式焦平面读出电路的单元电路一般包括前置放大器、采样保持电路、多路开关传输器和缓冲跟随器.在有限的单元面积内完成较高......

分析了MOS器件的辐照特性及辐照失效机理。基于Global Foundries 0.35μm CMOS工艺,设计了一款320×256抗辐照加固紫外焦平面读出......

针对GaN基紫外焦平面，采用单端放大器的CTIA结构作为输入级，设计了一种小面积低功耗的读出电路，分析了电路的电荷增益、注入效率、功......

本文采用金属有机化学汽相沉积生长的p-i-n GaN材料制备了64元线列探测器并与读出电路实现了互连，采用PI-4000系列测试系统对焦平面......