波形敏化相关论文
超深亚微米工艺下,串扰的出现会导致在电路设计验证、测试阶段出现严重的问题.本文介绍了一个基于波形敏化的串扰时延故障测试生成......
进延测试对于高速集成电路非常重要。本文介绍一个带时间参烽的时延测试产生系统。该系统使用一个时刻逻辑值来表示一个波形，并将输......
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串扰的出现可能会导致电路出现逻辑错误和时延故障 因此 ,超深亚微米工艺下 ,在设计验证、测试阶段需要对串扰问题给予认真对待 ......
出于定量地测量被测通路的传输延迟的考虑 ,文中提出一种基于波形敏化的“单跳变敏化”的概念 ,对波形敏化与传统的通路敏化的区别......
