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本文报道了由中国科学院高能物理研究所自行研制的掠出射X射线荧光分析(GEXRF)装置.掠出射X射线荧光分析不仅可以测量薄膜的成分,......
轻元素检测方法的研究是钢铁、冶金、地质和环境等领域中的一个重要研究课题。本文在分析国内外掠射X射线荧光分析技术的基础上，对......
掠射X射线荧光分析为薄层和多层膜特性分析提供了潜在的可能.尤其是可以探测膜层厚度、界面形貌和组成.以北京同步辐射光源作激发......
所有的真实表面,不管是自然生成的还是人工加工的表面都有着一定的粗糙度。粗糙表面的散射过程是一个十分重要并且有意义的研究内......
依据工作原理,比较了掠出射X射线荧光分析技术(GEXRF)和掠入射X射线荧光分析技术(GI-XRF)的优缺点,比较角度包括实验装置、探测限......
