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外全反射角X射线相关论文

表面层外全反射角X射线能谱微分析

电子探针微区分析(EPMA,XRMA)由于X射线激发深度较大而对薄层分析产生困难,无法准确确定分析结果是样品表面的成分还是样品体相的......

期刊

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薄膜外全反射角X射线能谱分析研究

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学位

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